【產(chǎn)品推薦】半導(dǎo)體檢查、晶片檢查LLBKC-BA-1650
?【產(chǎn)品推薦】半導(dǎo)體檢查、晶片檢查LLBKC-BA-1650
特性
●可照射NIR（近紅外波長740nm~1000nm）SWIR（短波紅外波長1000nm～1700nm）區(qū)域的光源BOX
●使用NIR/SWIR光也可以實(shí)現(xiàn)在可見光下難以拍攝的同色異物識別和封裝印刷物的透過拍攝
●SWIR光可用于有效利用硅的透過和水的波長吸收特性的檢查
※為了拍攝需要銦·砷化鎵（InGaAs）傳感器相機(jī)
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用途示例
半導(dǎo)體檢查、晶片檢查、電子基板檢查、
太陽能電池檢查、農(nóng)產(chǎn)品檢查、識別分類、監(jiān)視、防偽、工程質(zhì)量管理
發(fā)射波長
740nm
850nm
940nm
1,050納米
1,100納米
1,200納米
1,300納米
1,450納米
1,550納米
1,650納米